发明名称 TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH08201476(A) 申请公布日期 1996.08.09
申请号 JP19950013129 申请日期 1995.01.30
申请人 NEC KYUSHU LTD 发明人 YAMAMOTO SHOJI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址