发明名称 高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶板
摘要 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆靶板系具有被控制的结晶特征。在一基片上之该薄膜厚度分布之均匀性问题,其是可藉由采用以下之要求而被解决:(a)在该靶板之喷溅涂覆表面之各个不同部分处之平圾结晶晶粒直行系是为500微米或是更小,且该平均结晶晶粒直径之分散度是在±20%之中,及(b)该被界定之定向含量比例A,质系有一分散度在±20%之间,及(c)一钛金属(Ti)靶板之结得结构系是有一再结晶结构。相关于在瞄准用于线性位移一之微粒产生及较低薄膜形成速度等问题,其是可藉由采用以下之要求而被解决:(d)该定向含量比例A是为80%或是更少,更佳地是为50%或是更少,及(e)该被界定之定向含量比例B是为20%或是更少,且在有须要时,其是可结合上述之(a)至(c)的要求。
申请公布号 TW282491 申请公布日期 1996.08.01
申请号 TW083108469 申请日期 1994.09.14
申请人 能源股份有限公司 发明人 永泽俊;福世秀秋;泽田进
分类号 C23C4/00;C23C22/77 主分类号 C23C4/00
代理机构 代理人 林镒珠 台北巿长安东路二段一一二号九楼
主权项 1. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶板,其中,在 该靶 板之喷溅涂覆表面之不同部分上之该平均结晶晶 粒直径, 其是为500微米或是更小,且该平均 @qf 结晶晶粒直径之分散度系是在 20%之间。2. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶板 ,其中,相关于( 002),(103),(104)及(105)平面上藉由X光射线绕射在该 靶板之喷溅涂布表面之不同部份上量测之定向含 量比例A ,其以下面之数値公式1为基础来被量测之値系有 是一分 散度在20%之间,其中该公式1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。3. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中(a)在该靶 板之喷溅涂覆表面之各个不同部分处之平均结晶 晶粒直径 系是为500微米或是更小,且该平均结晶晶粒直径之 分散 是在20%之中,及(b)相关于(002),(103),(014)及( 015)平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅涂布 表面之 不同部分上量测之定向含量比例A,其以下面之数 値公式1 为基础来被量测之値系有是一分散度在20%之间, 其中 该公式1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。4. 如申请专利范围第1至3项中任一项 之高纯度钛金属之 喷溅涂覆用靶板,其中,该靶板之结晶结构是为一 再结晶 结构。5. 如申请专利范围第1至3项中任一项之高 纯度钛金属之 喷溅涂覆用靶板,其中,在该靶板之喷溅涂覆表面 之不同 部份上之平均结晶晶粒直径,其是为100微米或是更 小。6. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶板,其中 ,(a)该靶 板之结晶结构是为一再结晶结构,(b)在该靶板之喷 溅涂 覆表面之各个不同部分处之平均结晶晶粒直径系 是为100 微米或是更小, @qf 且该平均结晶晶粒直径之分散是在 20%之中,及(c)相关于(002), (103),(014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在该靶板 之 喷溅涂布表面之不同部分上量测之定向含量比例A ,其以 下面之数値公式1为基础来被量测之値系有是一分 散度在 20%之间,其中,该公式1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。7. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,相关( 002),(103),(014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在该 靶板之喷溅涂布表面之不同部分上量测之定向含 量比例A ,其以下面之数値公式1为基础来被量测之値系为80 %或更 少,其中该公式1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。8. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)相关 (002),(103),(014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在 该靶板之喷溅涂布表面之不同部分上量测之定向 含量比例 A,其以下面之数値公式1为基础来被量测之値系为 80%或 更少,及(b)该定向含量比例A是有一分散度在20%之 间 ,其中该公式1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。9. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)相关 (002),(103),(014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在 该靶板之喷溅涂布表面之不同部分上量测之定向 含量比例 A,其以下面之数値公式1为基础来被量测之値系为 80%或 更少,及(b)相关于(002)平面上藉由X光射线绕射在该 靶 板之喷溅涂布表面之不同部分上量测之定向含量 比例B, 其以下面之数値公式2为基础来被量测之値系为20% 或更少 ,其中,该公式1和2系分别为 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡); 公式2 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。10. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)相 关(002),(103),(014)及(015)平面上藉由X光射线绕射 在该靶板之喷溅涂布表面之不同部分上量测之定 向含量比 例A,其以下面之数値公式1为基础来被量测之値系 为80% 或更少,(b)该定向含量比例A是有一分散度在20%之 间 ,及(c)相关于(002)平面上藉由X光射线绕射在该靶板 之 喷溅涂布表面之不同部分上量测之定向含量比例B ,其以 下面之数値公式2为基础来被量测之値系为20%或更 少,其 中该公式1和2系分别为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡) 公式2 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。11. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)在 该靶板之喷溅涂覆用靶板表面之不同部分上之平 均结晶晶 粒直径,其是为500微米或是更小,且该平均结晶晶 粒直 径之分散度是在20%之间,及(b)相关(002),(103),( 014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅 涂布 表面之不同部分上量测之定向含量比例A,其以下 面之数 値公式1为基础来被量测之値系为80%或更少,其中 该公式 1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。12. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)在 该靶板之该喷溅涂覆用靶板表面之不同部分上之 平均结晶 晶粒直径,其是为500微米或是更小,且该平均结晶 晶粒 直径之分散度是在20%之间,及(b)相关(002),(103), (014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷 溅涂 布表面之不同部分上量测之定向含量比例A,其以 下面之 数値公式1为基础来被量测之値系为80%或更少,及(c )该 定向含量比例A是有一分散度在20%之间,其中,该公 式 1系为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。13. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)在 该靶板之该喷溅涂覆用靶板表面之不同部分上之 平均结晶 晶粒直径,其是为500微米或是更小,且该平均结晶 晶粒 直径之分散度是在20%之间,(b)相关(002),(103),( 014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅 涂布 表面之不同部分上量测之定向含量比例A,其以下 面之数 値公式1为基础来被量测之値系为80%或更少,及(c) 相关 于(002)平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅涂 布表面 之不同部分上量测之定向含量比例B,其以下面之 数値公 式2为基础来被量测之値系为20%或更少,其中该公 式1和2 系分别为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。 公式2 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡);14. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶 板,其中,(a)在 该靶板之该喷溅涂覆用靶板表面之不同部分上之 平均结晶 晶粒直径,其是为500微米或是更小,且该平均结晶 晶粒 直径之分散度是在20%之间,(b)相关(002),(103),( 014)及(015)平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅 涂布 表面之不同部分上量测之定向含量比例A,其以下 面之数 値公式1为基础来被量测之値系为80%或更少,(c)该 定向 含量比例A是有一分散度在20%之间,及(d)相关于(002 ) 平面上藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅涂布表面 之不同 部分上量测之定向含量比例B,其以下面之数値公 式2为基 础来被量测之値系为20%或更少,其中该公式1和2系 分别 为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡); 公式2 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡)。15. 如申请专利范围第7至14项中任一项 之高纯度钛金属 之喷溅涂覆用靶板,其中,在相关于(002),(103),(014 )及(015)平面上之该定向含量比例A,其是为50%或是 更小 。16. 如申请专利范围第7至14中任一项之高纯度钛 金属之 喷溅涂覆用靶板,其中,该靶板之结晶结构是为一 再结晶 结构。17. 如申请专利范围第7至14中任一项之高纯 度钛金属之 喷溅涂覆用靶板,其中,在该靶板之喷溅涂覆表面 之不同 部分上之平均结晶晶粒直径,其系为100微米或是更 小。18. 一种高纯度钛金属之喷溅涂覆用靶板,其 中,(a)在 该靶板之结晶结构是为一再结晶结构,(b)在该靶板 之喷 溅涂覆表面之不同部分上之平均结晶晶粒直径,其 系为 100微米或是更小,且该平均结晶晶粒直径之分散度 是在 20%之间,(c)相关(002),(103),(014)及(015)平面上 藉由X光射线绕射在该靶板之喷溅涂布表面之不同 部分上 量测之定向含量比例A,其以下面之数値公式1为基 础来被 量测之値系为50%或更少,(d)该定向含量比例A是有 一分 散度在20%之间,及(e)相关于(002)平面上藉由X光射 线 绕射在该靶板之喷溅涂布表面之不同部分上量测 之定向含 量比例B,其以下面之数値公式2为基础来被量测之 値系为 20%或更少,其中该公式1和2系分别为: 公式1 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参 考JCPDS卡); 公式2 其中I(hk1)是为藉由X光射线绕射所得之(hk1)平面之 尖峰 强度,而R(hk1)则是为该(hk1)平面之相对强度比例(请 参
地址 日本
您可能感兴趣的专利