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发明名称 Inspection of semiconductor device for defective leads
摘要
申请公布号 GB2297379(A) 申请公布日期 1996.07.31
申请号 GB19960001846 申请日期 1996.01.30
申请人 * NEC CORPORATION 发明人 TOMOYUKI * KIDA
分类号 G01B11/24;G01N21/88;G01N21/93;G01N21/956;G06T7/00;H01L21/66;H01L23/50;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
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