发明名称 功率MOSFET及利用自对准体注入制作其的方法
摘要 一种制造功率MOSFET的方法,该方法包括:在半导体层内制作一个沟槽,制作用于排列沟槽的栅极绝缘层,在沟槽的下部制作一个栅极导电层,然后制作用于填充沟槽之上部的绝缘层。去除绝缘层侧面附近的半导体层部分,从而其上部从半导体层向外延伸。在向外延伸的绝缘层上部的侧面附近制作隔层,使用隔层作为用于限定源/体接触区域的自对准掩模。
申请公布号 CN1211844C 申请公布日期 2005.07.20
申请号 CN01814377.6 申请日期 2001.07.18
申请人 快捷半导体有限公司 发明人 曾军
分类号 H01L21/336;H01L29/10 主分类号 H01L21/336
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 李强
主权项 1.一种形成MOSFET的方法,包括:在半导体层中形成一个沟槽;形成衬在该沟槽上的栅极介电层;在沟槽的下部形成一个栅极导电层;形成用于填充沟槽的上部的一个介电层;去除与介电层横向相邻的半导体层部分,从而使其上部从半导体层向外延伸,并且介电层向外延伸的上部的侧壁与沟槽的侧壁对准;在半导体层中邻近向外延伸的介电层形成源区域;形成与介电层向外延伸的上部横向相邻的隔层;使用该隔层作为限定源/体接触区域的自对准掩模;去除该隔层;在源区域和介电层上形成源电极;以及在源电极和源/体接触区域之间形成至少一个导电通路。
地址 美国缅因