发明名称 |
Method and Apparatus for Automatically Testing Semiconductor Diodes |
摘要 |
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申请公布号 |
CA2162653(A1) |
申请公布日期 |
1996.07.24 |
申请号 |
CA19952162653 |
申请日期 |
1995.11.10 |
申请人 |
FLUKE CORPORATION |
发明人 |
GIBSON, ROBERT T.;HOLMDAHL, TODD E. |
分类号 |
G01R31/01;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/01 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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