| 发明名称 |
PROBING CHARACTERISTIC TESTING DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08189939(A) |
申请公布日期 |
1996.07.23 |
| 申请号 |
JP19950001674 |
申请日期 |
1995.01.10 |
| 申请人 |
IWAKI ELECTRON CORP LTD |
发明人 |
MORISHITA ISAMU;SATO YOSHIHARU |
| 分类号 |
G01R1/067;G01R31/02;H05K3/00;(IPC1-7):G01R1/067 |
主分类号 |
G01R1/067 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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