发明名称 TESTING APPARATUS FOR HIGH FREQUENCY CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR960006200(Y1) 申请公布日期 1996.07.22
申请号 KR19930014090U 申请日期 1993.07.27
申请人 DAEWOO ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 JUNG, KI - HYUK
分类号 G01R23/00;(IPC1-7):G01R23/00 主分类号 G01R23/00
代理机构 代理人
主权项
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