发明名称 可测试IDDQ之单方向主从
摘要 一正反器具有经由一缓冲器来相互连接之主锁存器与从锁存器,主锁存器使其之反相器位于自输入至输出之信号路径以外,因为缓冲器提供IDDQ测试与运作用途所需之驱动能力。此种组态在无需增加额外电路至正反器之下致能 IDDQ测试并降低信号路径之传输延迟。
申请公布号 TW281726 申请公布日期 1996.07.21
申请号 TW084106702 申请日期 1995.06.29
申请人 飞利浦电子股份有限公司 发明人 曼杰.沙戴
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1. 一种测试具有至少一正反器之电子电路的方法,且该正反器具有经由一可控制式耦接来相互连接之一主锁存器与一从锁存器,该方法包含正反器之静能电流测试,该方法之特征为该方法包含:应用静态电流测试于可控制式耦接为单方向之正反器,该静态电流测试包含:在自主锁存器至从锁存器之时脉控制资料移转之后决定一静态电流。2. 一种包含具有经由可控制单方向耦接来相互连接之一主锁存器与一从锁存器之一正反器的电子电路,其中主锁存器与从锁存器之每一锁存器皆具有一个别之双向开关,且其中主锁存器包含第一反相器与第二反相器,该电子电路之特征为第一反相器之一输入连接至该单方向耦接。3. 根据申请专利范围第2项之电路,其中该耦接包含一缓冲器。4. 根据申请专利范围第2项之电路,其中从锁存器包含第三与第四反相器,第三反相器之一输入连接至单方向耦接,且其中正反器包含一输出缓冲器,而该输出缓冲器具有连接至第三反相器与单方向耦接之一输入。图示简单说明:图1是一典型以前技术正反器之图形;图2是具有单方向耦接之正反器的图形;图3是具有单方向耦接与最佳化信号路径之正反器的图形;且
地址 荷兰