发明名称 半导体装置
摘要 设置焊垫,及电流检测时用于连接共通资料线与焊垫之第1开关。设置第2开关,电流检测时使非选择位元线保持于和读出电压VR相同或较其低的第1电压。电流检测时使用第1开关连接共通资料线与焊垫,如此则,可由焊垫对行及列选择之记忆格施加电压。此时藉由监控流入之电流可以检测出流入记忆格之电流。藉由上述第2开关使非选择位元线保持于上述第1电压,因此用于分离非选择位元线与共通资料线的CMOS开关之偏压可设为如下。亦即,CMOS开关之源极/汲极间电压可缓和于上述第1电压范围内,构成上述CMOS开关之NMOS电晶体之闸极/源极间及体(bulk)/源极间电压可设为上述第1电压范围内之逆偏压。
申请公布号 TW200818213 申请公布日期 2008.04.16
申请号 TW096124458 申请日期 2007.07.05
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 小田部晃;半泽悟
分类号 G11C7/12(2006.01);G11C7/00(2006.01) 主分类号 G11C7/12(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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