| 发明名称 |
A method for testing the reliability of a dielectric film on semiconductor substrate |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2296778(A) |
申请公布日期 |
1996.07.10 |
| 申请号 |
GB19950026621 |
申请日期 |
1995.12.29 |
| 申请人 |
* HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO., LTD |
发明人 |
KUM-YONG * OM |
| 分类号 |
G01R31/12;(IPC1-7):G01R31/12 |
主分类号 |
G01R31/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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