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发明名称 Mustererkennungsverfahren.
摘要
申请公布号 DE68924458(T2) 申请公布日期 1996.06.27
申请号 DE19896024458T 申请日期 1989.07.31
申请人 RAYTHEON CO., LEXINGTON, MASS., US 发明人 TERZIAN, JOHN, WINCHESTER MASSACHUSETTS, US
分类号 G06T7/60;G06K9/50;(IPC1-7):G06K9/50 主分类号 G06T7/60
代理机构 代理人
主权项
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