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发明名称 A semiconductor memory with inhibited test mode entry during power-up
摘要
申请公布号 EP0475588(B1) 申请公布日期 1996.06.26
申请号 EP19910307419 申请日期 1991.08.12
申请人 SGS-THOMSON MICROELECTRONICS, INC. 发明人 MCCLURE, DAVID CHARLES;COKER, THOMAS ALLYN
分类号 G11C29/00;G11C29/14;G11C29/46;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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