发明名称 |
半导体装置 |
摘要 |
本创作系有关,提供以防止TAB薄带引线间隔所造成之不整齐情况,使TAB薄带之尺寸管理更为容易,防止模塑树脂之钝化膜龟裂发生之半导体装置为目的者。此创作之半导体装置之构成系具有元件用透孔11之绝缘体所成TAB薄带12和,于此薄带12上一体形成金属箔所成之复数引线13和,介由配设于元件用透孔11之接点于引线13之一端连接之半导体元件14和,连接于引线13的另一端之复数引线框体15和,TAB薄带12,引线13,被覆半导体元件14及大部份引线框体15而封闭之模塑树脂16所构成者。更且,与引线及引线框体之连接部17系呈等间隔之直线状,于半导体元件之外围平行或直角地加以配置,以达上述之目的。 |
申请公布号 |
TW279545 |
申请公布日期 |
1996.06.21 |
申请号 |
TW084214851 |
申请日期 |
1993.12.04 |
申请人 |
东芝股份有限公司 |
发明人 |
小岛伸次郎;平田诚一 |
分类号 |
H01L23/495 |
主分类号 |
H01L23/495 |
代理机构 |
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代理人 |
林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼 |
主权项 |
2. 如申请专利范围第1项之半导体装置,其中,上述引线框体连接于上述引线之前端直线部之长度设定为至少为0.3mm以上者。图示简单说明:[图1]显示此创作之有关一实施例TAB方式的半导体装置平面图。[图2]图1之截面图。[图3]显示图1重要部份之扩大平面图。[图4]图3之截面图。[图5]显示以往TAB方式之半导体装置的平面图。[图6]图5之截面图。 |
地址 |
日本 |