发明名称 Verfahren und Apparat zur Abschätzung der Restbetriebszeit eines einer Strahlung ausgesetzten Materials
摘要
申请公布号 DE69206890(T2) 申请公布日期 1996.06.13
申请号 DE19926006890T 申请日期 1992.06.05
申请人 HITACHI, LTD., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 SHIMANUKI, SHIZUKA, HITACHI-SHI, IBARAKI-KEN, JP;NAKATA, KIYOTOMO, KATSUTA-SHI, IBARAKI-KEN, JP;MATUSHITA, SHIZUO, HITACHI-SHI, IBARAKI-KEN, JP;KASAHARA, SHIGEKI, HITACHI-SHI, IBARAKI-KEN, JP;YAMAMOTO, MICHIYOSHI, HITACHI-SHI, IBARAKI-KEN, JP;ANZAI, HIDEYA, HITACHI-SHI, IBARAKI-KEN, JP
分类号 G01N17/00;G21C17/00;(IPC1-7):G21C17/00 主分类号 G01N17/00
代理机构 代理人
主权项
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