| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Vermessen und Markieren an distanzierten Linien, Flächen oder in zumindest teilweise geschlossenen Räumen. Dabei werden die Linien, Flächen oder Räume durch Aufnahme von ein oder mehreren relevanten Raumpunkten (2) nach jeweils zwei Raumwinkeln und der Entfernung gegenüber einem Bezugsort (3) mittels eines kardanisch gelagerten Laserdistanzmeßgerätes (6) vermessen. Die Meßwerte werden in einer Auswerteeinheit (12) gespeichert und zur Berechnung eines idealisierbaren mathematischen Modells der aufgenommenen Linie, Fläche oder des Raums herangezogen. Aus den gespeicherten Meßwerten wird dann im mathematischen Modell die Lage von ein oder mehreren gesuchten Markierpunkten (5) berechnet, die vom Bezugsort (3) aus mit einem Strahl (4) an den aufgenommenen Linien oder Flächen mit dem Laserstrahl (4) markiert werden.</p> |
