| 发明名称 |
IMMUNITY MEASUREMENT METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08152429(A) |
申请公布日期 |
1996.06.11 |
| 申请号 |
JP19940321431 |
申请日期 |
1994.11.29 |
| 申请人 |
KDK CORP |
发明人 |
OU KAORU;YONEHARA SATOSHI;FUKUOKA TAKAO |
| 分类号 |
G01N33/531;B01F17/42;B01F17/52;G01N21/78;G01N33/532;G01N33/543;(IPC1-7):G01N33/543 |
主分类号 |
G01N33/531 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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