| 发明名称 |
METHOD OF DETERMINATION OF PARAMETERS OF TRAPS IN SEMICONDUCTOR MATERIALS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU1385938(C) |
申请公布日期 |
1996.06.10 |
| 申请号 |
SU19853889265 |
申请日期 |
1985.04.22 |
| 申请人 |
ILICHEV E.A.;MASLOBOEV YU.P.;POLTORATSKIJ E.A. |
发明人 |
ILICHEV E.A.;MASLOBOEV YU.P.;POLTORATSKIJ E.A. |
| 分类号 |
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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