发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING BARE CHIP
摘要
申请公布号 JPH08146082(A) 申请公布日期 1996.06.07
申请号 JP19940283056 申请日期 1994.11.17
申请人 OKI ELECTRIC IND CO LTD 发明人 OTSUKI YASUO
分类号 G01R31/26;G01R1/06;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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