| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SURFACE POTENTIAL |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08146065(A) |
申请公布日期 |
1996.06.07 |
| 申请号 |
JP19940286192 |
申请日期 |
1994.11.21 |
| 申请人 |
RICOH CO LTD |
发明人 |
OHASHI MIKIO;KIMURA TAKASHI |
| 分类号 |
G01R29/12;H01L21/66;H01L41/09;(IPC1-7):G01R29/12 |
主分类号 |
G01R29/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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