发明名称 Wafer Prüfstation mit Zusatzhaltetischen
摘要
申请公布号 DE69302215(D1) 申请公布日期 1996.05.23
申请号 DE19936002215 申请日期 1993.05.20
申请人 CASCADE MICROTECH, INC., BEAVERTON, OREG., US 发明人 HARWOOD, WARREN K., VANCOUVER, WASHINGTON 98682, US;TERVO, PAUL A., VANCOUVER, WASHINGTON 98692, US;WARNER, RICHARD H., PORTLAND, OREGON 97202, US
分类号 G01R31/26;G01R1/067;H01L21/66;H01L21/683;(IPC1-7):H01L21/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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