发明名称 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPH08129986(A) 申请公布日期 1996.05.21
申请号 JP19940264793 申请日期 1994.10.28
申请人 NIKON CORP 发明人 MORI FUTOSHI;HIROSE HIROSHI;FUKAZAWA KAZUHIKO
分类号 H01J37/20;H01J37/22;(IPC1-7):H01J37/22 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
地址