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发明名称 METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH08129052(A) 申请公布日期 1996.05.21
申请号 JP19940266771 申请日期 1994.10.31
申请人 ROHM CO LTD 发明人 OTA AKIO
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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