| 发明名称 |
FASEROPTISCHES VERFAHREN ZUR MESSUNG DER GRÖSSE VON LOKALEN MIKROWELLENFELDERN UND -LEISTUNGEN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AT137584(T) |
申请公布日期 |
1996.05.15 |
| 申请号 |
AT19900400787T |
申请日期 |
1990.03.22 |
| 申请人 |
LUXTRON CORPORATION |
发明人 |
KIM, JAMES H.;SUN, MEI H.;WICKERSHEIM, K.A. |
| 分类号 |
G01K17/00;G01R1/07;G01R21/02;G01R29/08;(IPC1-7):G01R1/067;G01R21/04 |
主分类号 |
G01K17/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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