| 发明名称 |
Test circuit for a semiconductor device |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2295038(A) |
申请公布日期 |
1996.05.15 |
| 申请号 |
GB19950022877 |
申请日期 |
1995.11.08 |
| 申请人 |
* HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO. LTD. |
发明人 |
SEON ICK * SOHN;YONG * HWANG |
| 分类号 |
G11C11/401;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/46;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
