| 主权项 |
1.一种多元素同位素X射线荧光分析仪，可以同时快速分析 物质中原子序数在Al以上(包括Al)的多种元素或其化合物的含 量，其特征是： (1)由双探头非真空测量室和双通路脉冲处理器构成主机，该 主机与装有命名为WL的专用分析软件的分析计算机构成分析仪整 机； (2)上述双探头真空测量室，用于测定Al、Si、S等轻元素含 量的轻元素探头采用了Φ10～12mm、厚度25～30μ的薄铍窗封闭 式高分辨正比计数管作探测器，并采用了强度为10～20mCi的环状 Fe-55低能光子源作激发源，激发源——样品间的距离为0.8～ 1.5mm；用于测定中等原子序数以上的重元素探头中装有1个20～ 30mCi的Pu-238点状源和20～30mCi的Am-241点状源，通过 光闸机构选择其中之一作为激发源，并采用Ф20～23mm厚度 0.2mm的厚铍窗高分辨率正比计数管作为重元素探测器，激发源 ——样品间的距离为6～10mm； (3)来自轻、重元素探头的X射线荧光信号进入双通路脉冲处 理器进行信号放大、变换处理后形成X射线荧光能谱，能谱数据通 过RS-232通讯口自动送入分析计算机，该计算机中装有命名为 WL的专用分析软件，该软件中采用了具有以下特征的X射线荧光 能谱数学分析技术；采用纯元素参考谱非线性最小二乘法谱形拟合 的数学解析方法，实现重叠谱峰的剥离、被覆盖峰的解析和背景扣 除；采用强峰自选最佳参考谱的方法，自动校正计数率变化所引起 的强峰谱形变化和背景变化；采用峰位随机定位技术，自动校正计 数率——峰位漂移效应和其它因素引起的峰位漂移。 |
