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发明名称 Semiconductor integrated circuit device having test circuit
摘要
申请公布号 EP0422912(B1) 申请公布日期 1996.05.08
申请号 EP19900311092 申请日期 1990.10.10
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 SHIKATANI, JUNICHI
分类号 G01R31/317;G01R31/28;G01R31/3185;G11C7/10;G11C29/00;G11C29/12;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;H03K19/177;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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