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发明名称 Wechselstromvorrichtung zum Prüfen eines IC-Testgerätes
摘要
申请公布号 DE69026212(D1) 申请公布日期 1996.05.02
申请号 DE19906026212 申请日期 1990.12.04
申请人 ADVANTEST CORPORATION, TOKIO/TOKYO, JP 发明人 HIRAI, MASAHISA, KAZO-SHI, SAITAMA, JP;KOMAGATA, SHIGEMI, A TOH 202, EKISUPOHAITSU, KITAADACHI-GUN, SAITAMA, JP
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/319;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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