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发明名称 Testing semiconductor bump electrodes
摘要
申请公布号 GB2293882(A) 申请公布日期 1996.04.10
申请号 GB19950009488 申请日期 1995.05.10
申请人 发明人
分类号 H01L21/66;G01L5/00;G01N19/04;H01L21/60;(IPC1-7):G01N19/04;H05K13/08 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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