| 发明名称 |
AC evaluation equipment for an IC tester |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0431560(B1) |
申请公布日期 |
1996.03.27 |
| 申请号 |
EP19900123218 |
申请日期 |
1990.12.04 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORPORATION |
发明人 |
HIRAI, MASAHISA;KOMAGATA, SHIGEMI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/319;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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