| 发明名称 |
PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR TEST DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0875829(A) |
申请公布日期 |
1996.03.22 |
| 申请号 |
JP19940211249 |
申请日期 |
1994.09.05 |
| 申请人 |
MITSUBISHI DENKI SEMICONDUCTOR SOFTWARE KK;MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
MORI NAGAYA |
| 分类号 |
G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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