| 发明名称 |
FLAW DETECTION TEST METHOD AND PROBE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0875714(A) |
申请公布日期 |
1996.03.22 |
| 申请号 |
JP19940234110 |
申请日期 |
1994.09.02 |
| 申请人 |
HIHAKAI KENSA KK |
发明人 |
YOSHIARA TOSHIKATSU;IMANAKA TAKUICHI |
| 分类号 |
G01N29/24;H04R17/00;(IPC1-7):G01N29/24 |
主分类号 |
G01N29/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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