发明名称 | 分析压缩气体中颗粒杂质的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种分析压缩气体中杂质的系统和方法,一种控制监测气体中颗粒生长的方法和一种确定对各种气体最佳监测温度的方法。 | ||
申请公布号 | CN1118438A | 申请公布日期 | 1996.03.13 |
申请号 | CN95105701.4 | 申请日期 | 1995.05.10 |
申请人 | 乔治·克劳德方法的研究开发空气股份有限公司 | 发明人 | 王华驰;理查德J·尤迪沙茨 |
分类号 | G01N15/06 | 主分类号 | G01N15/06 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 杨晓光 |
主权项 | 1.一种分析压缩气体中杂质的系统,包括:测量所述气体中杂质的探测器,一个温度控制器,在所述气体进入探测器之前控制该气体的温度,一个压力平衡装置,它包括位于所说压缩气体源和探测器之间的第一阀门,用来将上述气体引入该系统的第二阀门,位于上述第二阀门下游的、用于基本上除去在来源气中和/或由上游元件引入的杂质的,一个用来控制上述气体从该系统的排放的位于上述过滤器下游的第三阀门和一个位于上述过滤器和探测器之间的喷嘴,用来向探测器返充上述气体,直至在上述第一阀门两边的压力达到平衡。 | ||
地址 | 法国巴黎 |