发明名称 SEMICONDUCTOR IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH0862292(A) 申请公布日期 1996.03.08
申请号 JP19940218117 申请日期 1994.08.19
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 YAMASHITA KAZUHIRO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
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