发明名称 Oberflächenpotentialmesssystem.
摘要
申请公布号 DE69020425(T2) 申请公布日期 1996.03.07
申请号 DE19906020425T 申请日期 1990.04.27
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP 发明人 TANAKA, KUNIYOSHI, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., 1-CHOME, MINATO-KU, TOKYO 105, JP;SHIROUZU, SHUNJI, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., 1-CHOME, MINATO-KU, TOKYO 105, JP;OHTA, MINORU, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIVISION, 1-CHOME, MINATO-KU, TOKYO 105, JP;MIYAGAWA, HIDEO, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., 1-CHOME, MINATO-KU, TOKYO 105, JP
分类号 G01N27/00;G01N27/60;(IPC1-7):G01R29/24;G03G15/00;H04N1/29 主分类号 G01N27/00
代理机构 代理人
主权项
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