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SE DESCRIBE UN DISPOSITIVO DE ENSAYO QUE TIENE UN LUGAR DE APLICACION DE LA MUESTRA EN SEMICRATER, UNIDO O ASOCIADO A UN SUBSTRATO. EL LUGAR DE APLICACION DE LA MUESTRA EN SEMICRATER, TIENE PAREDES DE ALTURAS DESIGUALES QUE RODEAN LA ZONA DISEÑADA PARA RECIBIR LA APLICACION DE MUESTRA. EN PARTICULAR, LAS PAREDES DEL SEMICRATER SON MAS ALTAS EN UN LADO QUE LAS PAREDES DEL SEMICRATER EN EL LADO OPUESTO. ESTO FACILITA LA APLICACION DE UNA PEQUEÑA CANTIDAD DE MUESTRA DIRECTAMENTE EN EL LUGAR DE APLICACION DE MUESTRA DESEADO.
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