发明名称 PROCEDE DE FORMATION D'UNE ELECTRODE DE GRILLE DANS UN COMPOSANT A SEMICONDUCTEUR
摘要 <P>Ce procédé permet de former une électrode de grille dans un composant à semiconducteur. Pour cela, on forme une couche d'oxyde à effet tunnel (2) sur un substrat de silicium, on dépose du polysilicium sur cette couche d'oxyde à effet tunnel et on dope ce polysilicium avec une impureté ionique pour former une grille flottante (3), on former séquentiellement une couche d'oxyde inférieure (4), une couche de nitrure (5) et une couche d'oxyde supérieure (6) sur la grille flottante pour former une couche diélectrique composite, on dépose un premier conducteur sur cette couche diélectrique composite afin de former une première grille de commande (7) et un second conducteur sur celle-ci pour former une seconde grille de commande (8) et on forme séquentiellement des motifs dans ces couches superposées à l'aide d'un masque pour former une électrode de grille.</P>
申请公布号 FR2724049(A1) 申请公布日期 1996.03.01
申请号 FR19950006095 申请日期 1995.05.23
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO LTD 发明人 CHO BYUNG JIN
分类号 H01L29/43;H01L21/316;H01L21/318;H01L21/8247;H01L27/115;H01L29/423;H01L29/49;H01L29/78;H01L29/788;H01L29/792;(IPC1-7):H01L21/28;H01L21/824 主分类号 H01L29/43
代理机构 代理人
主权项
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