发明名称 |
半导体存贮装置 |
摘要 |
一种半导体存贮装置,包括多个存贮单元、将从该存贮单元读出的数据反相后再写入存贮单元的反相再写入构件,存贮有在再写入时是否将从存贮单元读出的数据作了反相的判定用数据存贮构件,根据来自判定用数据存贮器的输出判定是将从存贮单元读出的数据反相后输出或是不反相便输出的判定构件。利用这些构件能减少加于写入数据“1”的存贮单元电容器的电容绝缘膜上的应力,实现长寿命化。 |
申请公布号 |
CN1117192A |
申请公布日期 |
1996.02.21 |
申请号 |
CN94116280.X |
申请日期 |
1994.09.22 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
中根譲治;椋木敏夫;森脇信行;角辰己;平野博茂;中熊哲治 |
分类号 |
G11C11/34 |
主分类号 |
G11C11/34 |
代理机构 |
上海专利商标事务所 |
代理人 |
汪瑜 |
主权项 |
1.一种半导体存贮装置,其特征是具有多个存贮单元、将从上述存贮单元读出的数据反相后再写入上述存贮单元的反相再写入构件、存贮有在再写入时是否将从上述存贮单元读出的数据进行了反相的信息的判定用数据存贮构件、根据来自上述数据存贮构件的输出判定是将从上述存贮单元读出的数据反相后输出或是不反相便输出的判定构件。 |
地址 |
日本大阪府 |