发明名称 SPUTTER EPITAXY OF COMPONENT-QUALITY SILICON-GERMANIUM HETEROSTRUCTURES
摘要 <p>Der Sputter-Epitaxie-Prozess gestattet die Herstellung von epitaktischen Heterostrukturen aus Si, Ge und Si1-xGex-Legierungen. Die Halbleiter-Eigenschaften von in situ aus der Gasphase oder aus festen Targets dotierten Si/Ge Heterostrukturen sind vergleichbar mit solchen, die durch MBE oder UHV-CVD synthetisiert werden können. Insbesondere sind hohe Ladungsträger-Beweglichkeiten in modulationsdotierten verspannten Si- oder Ge-Quantentöpfen erzielbar als Grundlage für Quanten-Halleffekt-Strukturen und MODFETs. Das Sputter-Epitaxie Verfahren lässt sich für alle möglichen elektronischen und optoelektronischen Bauelemente aus Si/Ge Heterostrukturen verwenden.</p>
申请公布号 WO1996004677(A1) 申请公布日期 1996.02.15
申请号 CH1995000164 申请日期 1995.07.17
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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