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发明名称 DATA TRANSFER CIRCUIT OF IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH0829497(A) 申请公布日期 1996.02.02
申请号 JP19940186277 申请日期 1994.07.15
申请人 ANDO ELECTRIC CO LTD 发明人 HIROFUJI MASAYUKI
分类号 G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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