摘要 |
EL INVENTO SE REFIERE A UN METODO PARA INSPECCIONAR UN OBJETO O UNA SERIE DE OBJETOS SUMINISTRADOS SUCESIVAMENTE PARA IREGULARIDADES COMO ERRORES DE FORMA, SUCIEDAD, RAJAS, ETC, COMPRENDIENDO LOS SIGUIENTES PASOS: 1) PROPORCIONAR AL MENOS UNA ESTACION DE ILUMINACION PARA EMISION DE RADIACION ELECTROMAGNETICA DE UN TIPO ELEGIDO, 2) PROPORCIONAR AL MENOS UNA ESTACION DE CAPTACION ASOCIADA QUE ESTA DISPUESTA PARA CAPTAR LA RADIACION ELECTROMAGNETICA EMITIDA POR LA ESTACION DE ILUMINACION, 3) PROPORCIONAR UN OBJETO PARA INSPECCION, Y 4) DISPONER EN ALINEACION LA, O CADA ESTACION DE ILUMINACION, LA, O CADA ESTACION DE CAPTACION ASOCIADA Y EL OBJETO, DE TAL FORMA QUE LA, O CADA ESTACION DE CAPTACION, PUEDAN FORMAR UNA IMAGEN DEL OBJETO ILUMINADA POR LA ESTACION DE ILUMINACION ASOCIADA. 5) PROPORCIONAR SOLAMENTE UNA ESTACION DE ILUMINACION Y/O SOLAMENTE UNA ESTACION DE CAPTACION, CUYA ESTACION DE ILUMINACION TRANSMITE RADIACION ELECTROMAGNETICA DE AL MENOS DOS TIPOS Y CUYA ESTACION DE CAPTACION PUEDE CAPTAR LA RADIACION ELECTROMAGNETICA DE ESTOS AL MENOS DOS TIPOS, POR LO QUE LA IMAGEN FORMADA DE LA RADIACION DE UN TIPO PUEDA DAR INFORMACION SOBRE IRREGULARIDADES DEL PRIMER TIPO Y LA IMAGAN FORMADA DE LA RADIACION DEL SEGUNDO TIPO PUEDA DAR INFORMACION SOBRE IRREGULARIDADES DEL SEGUNDO TIPO, ETC.., DE FORMA QUE DOS O MAS TIPOS DE IRREGULARIDAD SE PUEDAN DETERMINAR SIMULTANEAMENTE.
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