SCREENING TEST METHOD AND PRODUCING METHOD OF SEMICONDUCTOR,申请号KR19950040974-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	SCREENING TEST METHOD AND PRODUCING METHOD OF SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号	KR960001308(B1)	申请公布日期	1996.01.25
申请号	KR19950040974	申请日期	1995.11.13
申请人	TOSHIBA K.K.	发明人	KUSHIYAMA, NATSUKI;HURUYAMA, DORU;NUMATA, GENJI
分类号	G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
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