发明名称 Fabrication method of MOS-transistors and bipolar transistors on a semiconductor wafer
摘要 Zur Verbesserung des Herstellverfahrens einer Vorrichtung mit MOS- und Bipolartransistoren wird vorgeschlagen, daß nach der Herstellung bis auf die Oberfläche der Halbleiterscheibe gehender Öffnungen und eines allseitig isolierten Gatebereichs (6) ganzflächig eine amorphe Siliziumschicht (10) aufgebracht, dotiert und rekristallisiert wird und daß nach dem Aufbringen einer Hilfsschicht (11, 12) letztere und die Siliziumschicht (10) strukturiert werden. Es ist vorgesehen, daß diese und ggf. weitere strukturierte Siliziumschichten (23) die jeweils gegeneinander isoliert sind, ebenso wie Fenster der Gatebereiche(6) freigelegt und siliziert werden. Dadurch lassen sich niederohmige zuverlässige Anschlüsse aktiver und passiver Elemente der Vorrichtung mit geringem Aufwand an Masken erzeugen. <IMAGE>
申请公布号 EP0693775(A2) 申请公布日期 1996.01.24
申请号 EP19950110286 申请日期 1995.06.30
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 MUELLER, KARL HEINZ
分类号 H01L21/8249;(IPC1-7):H01L21/824 主分类号 H01L21/8249
代理机构 代理人
主权项
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