| 发明名称 |
SIMULTANEOUS TEST METHOD FOR EEP-ROM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0822700(A) |
申请公布日期 |
1996.01.23 |
| 申请号 |
JP19940174728 |
申请日期 |
1994.07.04 |
| 申请人 |
HITACHI ELECTRON ENG CO LTD |
发明人 |
TAKANO KAZUHISA |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C16/06;G11C17/00;G11C29/00;G11C29/56;H01L29/78;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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