| 发明名称 |
TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0823016(A) |
申请公布日期 |
1996.01.23 |
| 申请号 |
JP19940155942 |
申请日期 |
1994.07.07 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
MORI NOBORU;SHIMAZAKI MASAMITSU;OKUGAKI AKIRA |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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