发明名称 电子温度计
摘要 一种改良探针覆盖及鼓膜温度测量用之温度计,包括防止探针覆盖之再使用之装置。在较佳具体实施例中,杯型探针覆盖包括终止于耳片或凸缘上之两个以上之腿部。耳片或凸缘三由开关所感测。在较佳具体实例中,开关系配置在一内凹内,藉以防止发生关关作用。在另一可能具体实例中,提供多个位于外面之开关,以与多个凸缘相配合。另一可能者,来自探针覆臣之延伸部份可包括一终接凸缘或耳片对侧缘。在操作时,如由对隐藏式开关起作用之耳片之存在或对设在外面之开关起之作用之耳片存在所示,温度计非得有探针覆盖之确实存在不得操作。探针覆盖之射出则造成其变形以显示之前的使用。变形之较佳形状则包括例如有擦不掉之墨水记号,冲孔,切割或变曲。耳片或凸缘对温厉计探供探针覆盖之可靠合型力直至射出为止。探针覆盖在一与一次温度测量相结合时之变形则确使以后测量时将使用新探针覆盖。
申请公布号 TW268891 申请公布日期 1996.01.21
申请号 TW083105854 申请日期 1994.06.28
申请人 英佛拉–坦普公司 发明人 史泰克.伊尔;伊塞夫.乔治.J
分类号 A61B5/04;G01K7/00 主分类号 A61B5/04
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1. 一种用于电子温度计之改良探针覆盖,包括: 一窗部, 支撑该窗部之诸边,及 与诸边相结合之一个以上之延伸部份。2. 根据申 请专利范围第1项之改良探针覆盖,其中延伸部 份为一腿部。3. 根据申请专利范围第2项之改良探 针覆盖,其中有两个 腿部。4. 根据申请专利范围第2项之改良探针覆盖 ,其中有三个 腿部。5. 根据申请专利范围第1项之改良探针覆盖 ,再包括凸缘 之延伸部份。6. 根据申请专利范围第1项之改良探 针覆盖,其中延伸部 份终于凸缘。7. 一种用于电子温度计之改良探针 覆盖,包括: 一窗部, 支撑该窗部之诸边,及 一与诸边及孔相结合之圆筒形之延伸部份,以便与 电热计 相接结合,该延伸部份系适于致动一与温度计相结 合之开 关用以提供一显示探针覆盖之明确存在。8. 一种 电子温度计,用以经由耳管藉红外线测量量出病 患之温度,包括: 一具有适于与位于温度计之内凹中之开关相接合 之延伸部 份之探针覆盖, 适于承纳具有延伸部份之探针覆盖之诸部份之温 度计中之 内凹,及 内凹内之开关则与该延伸部份相接触以显示有或 无探针覆 盖。9. 根据申请专利范围第8项之电子温度计,其 中延伸部份 为腿部。10. 根据申请专利范围第8项之电子温度 计,其中探针覆 盖部份包括一侧缘。11. 根据申请专利范围第8项 之电子温度计,其中开关包 括一机电开关。12. 根据申请专利范围第8项之电 子温度计,其中开关包 括一光学感测器。13. 一种电子温度计,用以经由 耳管藉红外线测量量出病 患之温度,包括: 一具有适于与开关相接合之耳片之探针覆盖, 一适于承纳具有耳片之探针覆盖之部份之内凹,及 一邻接于内凹之机电开关以与该耳片相互作用以 显示有或 无探针覆盖。14. 一种电子温度计,用以经由耳管 藉红外线测量量出病 患之温度,包括: 一具有适于与开关相接合之耳片之探针覆盖, 一适于承纳具有耳片之探针覆盖之部份之内凹,及 一邻接于该内凹之光学感测器开关以与该耳片相 互作用以 显示有或无探针覆盖。15. 一种电子温度计,适合 与探针覆盖一起使用用以经由 耳管藉红外线测量出病患之温度,包括: 温度计之外壳, 具有一穿过外壳所形成之内凹之外壳, 一在内凹内之开关,将该开关予以起动以显示探针 覆盖之 明确存在,该开关系人工操纵不能接近者。16. 根 据申请专利范围第15项之电子温度计,其中位于内 凹之开关不能用手操作。17. 一种电子温度计,用 以经由耳管作为接近鼓膜测量红 外线辐射,一探针覆盖配置在予以配置在耳管内供 温度测 量用之温度计之部份上,及一射出机构用以自温度 计移除 探针覆盖,改良包括用以在射出期间将探针覆盖变 形之装 置俾探针覆盖不会再予使用。18. 根据申请专利范 围第17项之电子温度计,其中探针覆 盖之变形系由一穿孔予以提供。19. 根据申请专利 范围第17项之电子温度计,其中探针覆 盖之变形系在一射出时藉弯曲探针覆盖予以提供 。20. 根据申请专利范围第17项之电子温度计,其中 探针覆 盖之变形系在一射出探针覆盖时由一所形成之切 割所提供 。21. 一种电子温度计,用以经由耳管作为接近鼓 膜测量红 外线辐射,一探针覆盖配置在予以配置在耳管内供 温度测 量用之温度计之部份上,及一射出构件用以自温度 计移除 探针覆盖,改良包括用以提供擦不掉之墨水至探针 覆盖上 之装置用以在射出后识别探针覆盖为已使用过者 。22. 一种用于改良红外线温度计与探针覆盖组合 之操作之 方法,包括下列步骤: 将一探针覆盖固定于温度计上,以便提供一明确显 示探针 覆盖之存在, 致动温度计以便实施温度测量, 一旦实施初次温度测量时除非及直至探针覆盖予 以射出及 新探针覆盖予以插入为止则不能使用温度计。23. 根据申请专利范围第22项之方法,其中一实施射出 步 骤时探针覆盖即被认为已经使用过。24. 根据申请 专利范围第22项之方法,其中在射出步骤时 探针覆盖乃予以变形致使其不能再予使用。图示 简单说明: 图1显示一用以测量鼓膜温度之先前技艺电子温度 计之侧 视图。 图2显示一探针覆盖之透视图。 图3显示一与开关及外壳相反之改良探针覆盖之横 断面 图4显示一与开关相反之改良探针覆盖之横断面。 图5显示一改良探针覆盖及射出机构之横断面侧视 图。
地址 美国