| 发明名称 |
MULTIPIN PROBE UNIT FOR Z-AXIS UNIT OF X-Y SYSTEM IN-CIRCUIT TESTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0815319(A) |
申请公布日期 |
1996.01.19 |
| 申请号 |
JP19940172136 |
申请日期 |
1994.06.29 |
| 申请人 |
HIOKI EE CORP |
发明人 |
SEKI KAZUHIKO;HIOKI HIDEO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R1/073 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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