| 发明名称 |
METHOD FOR TESTING VARIABLE CONTROL DELAY CIRCUIT AND DELAY CHAIN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH088699(A) |
申请公布日期 |
1996.01.12 |
| 申请号 |
JP19950049738 |
申请日期 |
1995.03.09 |
| 申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICDS INC |
发明人 |
BURAIAN DEII MAKUMIN;SUTEIIBUN SHII HOON |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/30;H03H11/26;H03K5/13;(IPC1-7):H03K5/13 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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