发明名称 DC TEST FACILITATING CIRCUIT, DC TEST CONTROL CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PROVIDED WITH THE CIRCUITS
摘要
申请公布号 JPH088405(A) 申请公布日期 1996.01.12
申请号 JP19940139937 申请日期 1994.06.22
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 TAKINO TAIZO
分类号 G01R31/28;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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