发明名称 REGISTRO DE DATOS VLSI PROGRAMABLE POR MODOS.
摘要 PARA LA AUTOCOMPROBACION EN PASTILLA, UN PRIMER REGISTRO DE DATOS, (10) EJECUTA EL ALMACENAMIENTO O TRANSFERENCIA DE DATOS, FUNCIONA EN MODO DE EXPLORACION O GENERA NUMEROS SEUDOALEATORIOS (PRN) Y UN SEGUNDO REGISTRO DE DATOS (60) EJECUTA EL ALMACENAMIENTO O TRANSFERENCIA DE DATOS, FUNCIONA EN MODO DE EXPLORACION O EJECUTA ANALISIS DE FIRMAS. LA INICIALIZACION DE DATOS DE LOS REGISTROS OCURRE AUTOMATICAMENTE AL FUNCIONAR EN MODO DE PRUEBA. CADA ETAPA (50,..., 100,...) DE CADA REGISTRO INCLUYE UN CONTROLADOR DE MODO (33, 83) QUE EN EL MODO DE DATOS PASA DATOS DE UNA PUERTA (22, 72) DE TRANSMISION DE ENTRADA DE DATOS A UN BIESTABLE DE ALMACENAMIENTO (38, 90), O DATOS DE INICIALIZACION DESDE UNA PUERTA DE TRANSMISION DE INICIALIZACION (20, 70) AL COMIENZO DE UN MODO DE PRUEBA. ASI MISMO DURANTE EL MODO DE PRUEBA, LA SALIDA DE DATOS DE CADA ETAPA SE REALIMENTA A TRAVES DE PUERTAS O-EXCLUSIVO (40, 42, 90, 92) Y UNA PUERTA DE TRANSMISION (32, 82) A UNA PRIMERA DE LAS ETAPAS (ETAPA A). LOS MODOS DE DATOS Y PRUEBA SE SELECCIONAN MEDIANTE UNA SEÑAL DE HABILITACION DE PRUEBA APLICADA A TRAVES DE LA LOGICA DE ACONDICIONAMIENTO (12, 14, 16, 18, 24, 26; 62, 64, 66, 68, 74, 76) A CADA ETAPA
申请公布号 ES2078311(T3) 申请公布日期 1995.12.16
申请号 ES19900307213T 申请日期 1990.07.02
申请人 RAYTHEON COMPANY 发明人 LEWIS, EDWARD T.
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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