LEAKAGE CURRENT TEST CIRCUIT OF IC,申请号KR19900019704U-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	LEAKAGE CURRENT TEST CIRCUIT OF IC
摘要
申请公布号	KR950010494(Y1)	申请公布日期	1995.12.14
申请号	KR19900019704U	申请日期	1990.12.13
申请人	LG ELECTRON CO., LTD.	发明人	CHANG, SUN - HO
分类号	G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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